// Росатом / НИИИС
Структура отрасли

Новости

Специалисты НИИИС – в конференции «Молодежь в науке»

08.11.2019, 08:42  /  НИИИС

Молодые ученые НИИИС приняли участие в XVIII научно-технической конференции «Молодежь в науке», состоявшейся в РФЯЦ-ВНИИЭФ 29-31 октября. Высокую оценку экспертов получили доклады Александра Потехина, Евгения Михалицына и Артема Павлина. В числе участников – инженер-исследователь 2 категории НИГ разработки микросистемной техники НИИИС Антон Ухов, ставший победителем Первого Всероссийского конкурса инженерно-управленческого кадрового резерва ОПК России «Технолидер-2019».


Инженер-исследователь 1 категории НИГ разработки бортовых приборов спутниковой навигации НИИИС Александр Потехин участвовал в конференции «Молодежь в науке» во второй раз. Его доклад «Перенос носителей заряда через формирующийся кластер радиационных дефектов в субмикронных полупроводниковых структурах»  признан лучшим в секции «Теоретическая и математическая физика».


- В своей работе я провел анализ переноса носителей заряда через формирующийся кластер радиационных дефектов в субмикронных полупроводниковых структурах, - делится Александр. - Несмотря на то, что исследования носят теоретический характер, результаты имеют важное прикладное значение для прогнозирования поведения изделий микроэлектроники при радиационном воздействии. Дело в том, что уменьшение рабочей области полупроводниковых структур до типичных размеров обособленного радиационного дефекта приводит к усилению влияния неоднородности дефектообразования. Особенно ярко этот эффект проявляется для нейтронного излучения, способного образовывать в результате взаимодействия с веществом каскады смещений атомов.


Рассмотренная мной задача является частью общей проблемы анализа реакции субмикронных полупроводниковых структур, решаемой нашей научной группой. Действительно, вероятность повреждения объема рабочей области элемента уменьшается с сокращением его геометрических размеров, зато в этом случае даже единичный кластер радиационных дефектов может эффективно перекрыть канал транзистора. Таким образом, отказ субмикронных транзисторов носит вероятностный характер и определяется стохастическими процессами взаимодействия излучения с веществом на микроуровне. Несмотря на то, что первые работы в области влияния эффектов микродозиметрии на поведение элементов микросхем при радиационном воздействии относятся к 80-ым годам XX века, исследования в данном направлении продолжаются. Это обусловлено растущей актуальностью проблемы ввиду тенденции к уменьшению топологических норм элементов до нанометровых масштабов.


В плане организации конференции все было удобно и доступно, в секциях царила очень комфортная атмосфера, способствующая научному взаимодействию. Для участников проведены содержательные экскурсии, которые оказались интересны не только в части расширения кругозора, но и в профессиональном плане. Особенно меня впечатлило посещение института лазерно-физических исследований. Знакомство с его историей и перспективами развития, а также сверхмощными лазерными установками было очень познавательным.


Старший научный сотрудник НИГ разработки частотной модуляции НИИИС, к.т.н. Евгений Михалицын выступал в секции «Инженерные науки».


- Мой доклад посвящен разработке микрополоскового устройства симметрирования СВЧ сигналов, - рассказывает Евгений. - Устройства симметрирования применяются в приборах НИИИС. Мне удалось получить интересные теоретические и экспериментальные результаты в этой узконаправленной области. Уровень проработки темы такой, что можно переходить к разработкам опытных образцов. Благодаря участию в конференции приобретается опыт публичного выступления. Учитывая, что аудитория очень разноплановая, важно так построить свой доклад, чтобы изложенное было понятно каждому специалисту.


- Конференция превзошла мои ожидания! -  дополняет Инженер-исследователь 2 категории НИГ разработки программно-технических комплексов НИИИС Артем Павлин. - Все выступления в нашей секции «Информационные системы и технологии» были очень содержательными и интересными. В своем докладе я отразил аспекты обеспечения кибербезопасности автоматизированных систем управления технологическими процессами атомных электростанций. Эта тема близка нам, так как НИИИС является одним из основных участников разработки нового поколения компонентов АСУ ТП. Особое внимание в докладе  уделено методологии определения рисков от возможного намеренного вмешательства в систему управления с целью нанесения вреда для потенциально опасного промышленного объекта.


В работе конференции «Молодежь в науке»-2019 участвовали более 200 молодых сотрудников предприятий Росатома, студентов и аспирантов ведущих российских вузов. На суд жюри было представлено 165 докладов в пяти секциях: четырех открытых - «Теоретическая и математическая физика», «Экспериментальная физика», «Инженерные науки», «Информационные системы и технологии» и одной закрытой. Оценивали работы ведущие ученые РФЯЦ-ВНИИЭФ.






Все права защищены © 2002-, «НИИИС»
603950, Россия, Нижний Новгород, ГСП-486   E-mail: niiis@niiis.nnov.ru
Тел.: 7(831) 465-49-90   Факс: 7(831) 466-87-52, 466-67-69   Телекс: 151347 NIIIS RU
Яндекс.Метрика